2012/01/17

リンク・ア・メディア・デバイセズのeBoostTM技術がクラス最高のフラッシュメモリ耐久性を実現。あらゆるエンタープライズSSDアプリケーションの耐久性要求仕様を上回る

CNET Japan -
(カリフォルニア州サンタクララ発) データストレージ用カスタム・システムオンチップ(SoC)ソリューションに おけるリーディング企業リンク・ア・ メディア・デバイセズ(Link_A_Media Devices、以下LAMD)は、独自技術eBoostTM第2世代を採用したソリッドステートドライブ(SSD)の耐久性測定値を発表しました。

LAMDのeBoostTM技術は、標準クラスおよびエンタープライズクラスのNAND型フラッシュメモリの耐久性を大幅に向上させます。JEDECに準 拠した、エンタープライズクラスMLC NANDフラッシュメモリ向けテスト手法による測定で、eBoostTM技術を搭載したSSDは、9万回の書き換えサイクルを達成しました。このレベルの 耐久性は、クリティカルなスループット、レスポンスタイム、耐久性が要求されるトランザクション処理や高性能検索エンジンといった、特に要求の厳しいエン タープライズアプリケーションの要件仕様を上回ります。... 続きを読む

http://japan.cnet.com/release/30013414/

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